iPhone 17黑边测试图曝光

测试图首次流出,黑边细节引热议 近日,一组据称来自供应链内部的iPhone 17黑边测试图在海外科技论坛悄然流传,迅速引发果粉和业内人士关注。这些图片虽非官方发布,但因拍摄角度、背景与以往工程机高度一致,被不少分析人士认为可信度较高。 黑边宽度或进一步收窄 从测试图可见,iPhone 17正面屏幕四周边框明显比现款iPhone 16更窄,尤其是左右黑边已压缩至约1.5毫米,几乎达到视觉“无边”效果。有接近苹果供应链的消息人士透露,这得益于新一代LTPS-OLED面板工艺升级,使得驱动电路占用空间更小。 顶部结构保留Face ID模组 尽管黑边收窄,但顶部“刘海”区域并未完全取消,而是改为更紧凑的药丸状开孔,内部仍集成红外镜头、点阵投影器等Face ID组件。这意味着苹果短期内仍未放弃3D人脸识别方案,可能与安全支付及AR生态布局有关。 工程机测试阶段已进入尾声 据知情人士透露,目前这批测试机主要用于屏幕贴合良率与跌落抗压测试,预计将在今年第二季度定型。若进展顺利,iPhone 17系列有望在9月如期发布,其中标准版也将首次采用超窄边框设计,打破以往Pro独占的局面。 用户期待与现实之间的平衡 虽然黑边缩小带来更高屏占比,但也有工程师指出,过度压缩边框可能影响天线净空区布局,进而干扰5G信号表现。苹果如何在美观与功能之间取得平衡,将成为iPhone 17能否真正“惊艳”的关键。